A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /
Đã lưu trong:
| Tác giả khác: | , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| LEADER | 01079nam a2200349 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | DLU090096946 | ||
| 005 | ##20091201 | ||
| 040 | # | # | |a DLU |b eng |
| 041 | # | # | |a eng |
| 044 | # | # | |a us |
| 245 | # | # | |a A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics / |c Daniel Weibel ... [et al.]. |
| 653 | # | # | |a Fullerenes |
| 653 | # | # | |a Ion beam |
| 653 | # | # | |a Polymer |
| 653 | # | # | |a Secondary ion |
| 653 | # | # | |a Secondary ion mass spectrometry |
| 700 | # | # | |a Blenkinsopp, Paul. |
| 700 | # | # | |a Hill, Rowland. |
| 700 | # | # | |a Lockyer, Nicholas. |
| 700 | # | # | |a Vickerman, John C. |
| 700 | # | # | |a Weibel, Daniel. |
| 700 | # | # | |a Wong, Steve. |
| 773 | # | # | |t Analytical Chemistry |g Vol. 75, no. 7 (April 2003), p. 1754-1764 |
| 920 | # | # | |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
| 994 | # | # | |a DLU |
| 900 | # | # | |a True |
| 911 | # | # | |a Trương Bảo Trâm Anh |
| 925 | # | # | |a G |
| 926 | # | # | |a A |
| 927 | # | # | |a BB |
| 980 | # | # | |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |