A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự