A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

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Autres auteurs: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
Format: Article
Langue:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt