A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Övriga upphovsmän: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
Materialtyp: Artikel
Språk:English
Ämnen:
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt