A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /
Uloženo v:
| Další autoři: | , , , , , |
|---|---|
| Médium: | Článek |
| Jazyk: | English |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| Žádný popis. |