A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Další autoři: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt