Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

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Weitere Verfasser: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Format: Artikel
Sprache:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt