Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /
Đã lưu trong:
| Tác giả khác: | Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian. |
|---|---|
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Những quyển sách tương tự
- Identification of pigments in paint cross sections by reflection visible light imaging microspectroscopy /
- Bayesian methods for image super-resolution /
- Comparison of surface-enhanced resonance raman scattering from unaggregated and aggregated nanoparticles /
-
Design of mean filter using field programmable gate arrays for digital images
Bỡi: Duong, Huu Ai, et al.
Được phát hành: (2024) -
Restoration of Bayer-sampled image sequences /
Bỡi: Gevrekci, Murat.