Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Daljnji autori: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Format: Članak
Jezik:English
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Similar Items