Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt