Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Formaat: Artikel
Taal:English
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt