Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Outros autores: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Formato: Artigo
Idioma:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt