Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Další autoři: Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt