Raman microspectroscopy : A comparison of point, line, wide-field imaging methodologies /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Huffman, Scott W., Levin, Ira W., Schaeberle, Michael D., Schlucker, Sebastian.
Format:	Artykuł
Język:	English
Hasła przedmiotowe:	Image quality Imaging Raman spectrometry Spatial resolution Tunable filter
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Napisz pierwszy komentarz!

Podobne zapisy