Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Josell, Daniel.
Outros autores: Brongersma, Sywert H., Tokei, Zsolt.
Formato: Artigo
Idioma:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt