Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Josell, Daniel.
Další autoři: Brongersma, Sywert H., Tokei, Zsolt.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt