Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Josell, Daniel.
Otros Autores: Brongersma, Sywert H., Tokei, Zsolt.
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt