Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Josell, Daniel.
Andere auteurs: Brongersma, Sywert H., Tokei, Zsolt.
Formaat: Artikel
Taal:English
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt