Size-dependent resistivity in nanoscale interconnects /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Josell, Daniel.
מחברים אחרים:	Brongersma, Sywert H., Tokei, Zsolt.
פורמט:	Bài viết
שפה:	English
נושאים:	Conductivity Copper Electrical resistivity Interconnects Nanowires Size effects
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!

פריטים דומים