Electromigration and thermomigration in pb-free flip-chip solder joints /
Uloženo v:
Hlavní autor: | Chen, Chih. |
---|---|
Další autoři: | Tong, H.M., Tu K.N. |
Médium: | Článek |
Jazyk: | English |
Témata: | |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobné jednotky
-
Lead-Free Soldering
Autor: Bath, Jasbir
Vydáno: (2020) -
Wafer-Level Chip-Scale Packaging
Analog and Power Semiconductor Applications
Autor: Qu, Shichun, a další
Vydáno: (2015) -
Lead-Free Electronic Solders
Autor: Subramanian, KV
Vydáno: (2020) -
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments
Autor: Perkins, Andrew E., a další
Vydáno: (2020) -
A Guide to Lead-free Solders
Autor: Evans, John W., a další
Vydáno: (2020)