Semiconductor-thickness-dependent design of hetero-gate dielectric in double-gate TFETs
This study examined the dependence of the role and design of hetero-gate dielectric (HGD) on semiconductor film thickness in double-gate tunnel field-effect transistors (TFETs). The optimal position of the source-side dielectric heterojunction is nearly independent of the film thickness and aligned...
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | , , , |
---|---|
Định dạng: | Conference paper |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
IEEE Publishing
2024
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3288 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|