Semiconductor-thickness-dependent design of hetero-gate dielectric in double-gate TFETs

This study examined the dependence of the role and design of hetero-gate dielectric (HGD) on semiconductor film thickness in double-gate tunnel field-effect transistors (TFETs). The optimal position of the source-side dielectric heterojunction is nearly independent of the film thickness and aligned...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Nguyễn, Đăng Chiến, Nguyen Van Hao, Lê, Văn Tùng, Chun-Hsing Shih
Định dạng: Conference paper
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: IEEE Publishing 2024
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3288
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt