On-current limitation of high-k gate insulator MOSFETs

This work explores the limitation of high-k gate insulator on improving the driving currents of MOSFET devices. The use of high-k gate dielectric prevents from the gate tunneling current to have an acceptable equivalent oxide thickness (EOT) in scaled MOSFETs. However, the effectiveness of continued...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Chun-Hsing Shih, Jhong-Sheng Wang, Nguyễn, Đăng Chiến, Ruei-Kai Shia
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Elsevier 2024
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3296
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt