Fringing field and short channel effects in thin-body SOI MOSFETs with shallow source/drain

This work explores numerically the short-channel effects in thin-body SOI MOSFETs with shallow source/drain architecture, where the junction depths are less than the associated silicon body thicknesses. Unique fringing field and short-channel behavior are observed in the unconventional SOI devices....

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Jui-Kai Hsia, Chun-Hsing Shih, Ting-Shiuan Kang, Nguyễn, Đăng Chiến, Nguyen Van Kien
Định dạng: Conference paper
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: IEEE Publishing 2024
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3307
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt