Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt