Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Format:	Artikel
Sprache:	English
Schlagworte:	Extraction Nano-scale MOSFET Parasitic resistance Quantification Separation
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Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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