Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Další autoři: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt