Quantum Confinement Effect in Strained-Si¬1-xGex Double-Gate Tunnel Field-Effect Transistors

The energy bandgap is a key factor to determine the tunneling current in tunnel field-effect transistors (TFETs). This paper numerically investigates the effect of quantum confinement in the double-gate TFETs by evaluating the effective energy-band bandgap of the ultra-thin strained-Si1-xGex body....

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Nguyễn, Đăng Chiến, Chun-Hsing Shih, Luu The Vinh, Nguyen Van Kien
التنسيق: Conference paper
اللغة:English
منشور في: IEEE Publishing 2024
الوصول للمادة أونلاين:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3308
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt