Relationship between secondary electrom emissions and film thickness of hydrogenated amorphous silicon /

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:	Chu, Byung-Yoon., Han, Byoung-Sung., Ko, Seok-Cheol., Yang, Sung-Chae.
Định dạng:	Bài viết
Ngôn ngữ:	English
Những chủ đề:	Hydrogenated amorphous silicon Paschen's law Spectroscopy
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt


LEADER	00973nam a2200301 4500
001	DLU090078971
005	##20090619
040	#	#	\|a DLU \|b eng
041	#	#	\|a eng
044	#	#	\|a KR
245	#	#	\|a Relationship between secondary electrom emissions and film thickness of hydrogenated amorphous silicon / \|c Sung-Chae Yang, Byung-Yoon Chu, Seok-Cheol Ko, Byoung-Sung Han.
653	#	#	\|a Hydrogenated amorphous silicon
653	#	#	\|a Paschen's law
653	#	#	\|a Spectroscopy
700	#	#	\|a Chu, Byung-Yoon.
700	#	#	\|a Han, Byoung-Sung.
700	#	#	\|a Ko, Seok-Cheol.
700	#	#	\|a Yang, Sung-Chae.
773	#	#	\|t Electrophysics and Applications \|g Vol. 4-C, no. 4 (2004), p. 185-189
920	#	#	\|a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
994	#	#	\|a DLU
900	#	#	\|a True
911	#	#	\|a Trương Bảo Trâm Anh
925	#	#	\|a G
926	#	#	\|a A
927	#	#	\|a BB
980	#	#	\|a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự