Relationship between secondary electrom emissions and film thickness of hydrogenated amorphous silicon /

Đã lưu trong:
Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Chu, Byung-Yoon., Han, Byoung-Sung., Ko, Seok-Cheol., Yang, Sung-Chae.
Format: Bài viết
Sprog:English
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt