Relationship between secondary electrom emissions and film thickness of hydrogenated amorphous silicon /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Chu, Byung-Yoon., Han, Byoung-Sung., Ko, Seok-Cheol., Yang, Sung-Chae.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Схожие документы