Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả khác: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 00991nam a2200325 4500
001 DLU090078989
005 ##20090619
040 # # |a DLU  |b eng 
041 # # |a eng 
044 # # |a KR 
245 # # |a Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /  |c Jun-Ha Lee, Hoong-Joo Lee, Young-Jin Song, Young-Sik Yoon. 
653 # # |a Extraction 
653 # # |a Nano-scale MOSFET 
653 # # |a Parasitic resistance 
653 # # |a Quantification 
653 # # |a Separation 
700 # # |a Lee, Hoong-Joo.  
700 # # |a Lee, Jun-Ha.  
700 # # |a Song, Young-Jin.  
700 # # |a Yoon, Young-Sik.  
773 # # |t Electrophysics and Applications  |g Vol. 5-C, no. 2 (2005), p. 49-53  
920 # # |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Trương Bảo Trâm Anh 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a BB 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt