Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt