Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Format: Bài viết
Jezik:English
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt