Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Outros autores: Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
Formato: Artigo
Idioma:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt