Separation and quantification of parasitic resistance in nano-scale silicon MOSFET /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:	Lee, Hoong-Joo., Lee, Jun-Ha., Song, Young-Jin., Yoon, Young-Sik.
פורמט:	Bài viết
שפה:	English
נושאים:	Extraction Nano-scale MOSFET Parasitic resistance Quantification Separation
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים