Development of parametric material, energy, emission inventories for wafer fabrication in the semiconductor industry /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Allen, David T., Dyer, David E., Kenig, George A., Laurent, Jean-Philippe., Murphy, Cynthia F.
Formato:	Artículo
Lenguaje:	English
Materias:	Electronics industry Emissions inventory Energy consumption Microelectronic fabrication Pollutant emission Raw materials Semiconductor materials
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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