Development of parametric material, energy, emission inventories for wafer fabrication in the semiconductor industry /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Allen, David T., Dyer, David E., Kenig, George A., Laurent, Jean-Philippe., Murphy, Cynthia F.
Format: Bài viết
Jezik:English
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt