Development of parametric material, energy, emission inventories for wafer fabrication in the semiconductor industry /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Allen, David T., Dyer, David E., Kenig, George A., Laurent, Jean-Philippe., Murphy, Cynthia F.
Formatua: Artikulua
Hizkuntza:English
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt