Development of parametric material, energy, emission inventories for wafer fabrication in the semiconductor industry /
Đã lưu trong:
Tác giả khác: | Allen, David T., Dyer, David E., Kenig, George A., Laurent, Jean-Philippe., Murphy, Cynthia F. |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Compilation and application of Japanese inventories for energy consumption and air pollutant emissions using input-output tables /
Bỡi: Nansai, Keisuke. -
Global gridded emission inventories of beta-hexachlorocyclohexane /
Bỡi: Li, Yi-Fan. -
Quantification of variability and uncertainty for air toxic emission inventories with censored emission factor data /
Bỡi: Frey, H. Christopher. -
Propagation of uncertainty in hourly utility NOx emissions through a photochemical grid air quality model : A case study for the Charlotte, NC, modeling domain /
Bỡi: Abdel-Aziz, Amr. -
Impact of finer grid resolution on the spatial distribution of vehicle emissions inventories /
Bỡi: Niemeier, Debbie A.