Electromigration in ULSI Interconnections /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Tan, Cher Ming, 1959-
Định dạng: Sách giấy
Được phát hành: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Loạt:International series on advances in solid state electronics and technology.
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 01152nam a2200373 4500
001 DLU210196546
005 ##20210603
008 ##110308s2010 si a b 001 0 eng d
010 # # |a  2011280775 
020 # # |a 9789814273329 
020 # # |a 9814273325 
035 # # |a (OCoLC)ocn311763141 
040 # # |a BTCTA  |c BTCTA  |d YDXCP  |d SINTU  |d TXA  |d DEBSZ  |d CDX  |d DLC 
042 # # |a lccopycat 
082 # # |a 621.381 528 4  |b TA-C 
100 # # |a Tan, Cher Ming,  |d 1959- 
245 # # |a Electromigration in ULSI Interconnections /  |c Cher Ming Tan. 
260 # # |a Singapore ;  |a Hackensack, NJ :  |b World Scientific,  |c c2010. 
300 # # |a xix, 291 p. :  |b ill. ;  |c 24 cm. 
504 # # |a Includes bibliographical references and index. 
650 # # |a Electrodiffusion. 
650 # # |a Integrated circuits  |x Ultra large scale integration. 
830 # # |a International series on advances in solid state electronics and technology. 
923 # # |a 01/2021 
991 # # |a SH 
992 # # |a 2383185 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Nguyễn Thanh Hương 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a SH 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt