Electromigration in ULSI Interconnections /
Сохранить в:
| Главный автор: | Tan, Cher Ming, 1959- |
|---|---|
| Формат: | Sách giấy |
| Опубликовано: |
Singapore ; Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2010.
|
| Серии: | International series on advances in solid state electronics and technology.
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Схожие документы
-
ULSI semiconductor technology atlas
по: Tung, Chih-Hang
Опубликовано: (2003) -
VLSI 81 :
по: Gray, John P.
Опубликовано: (1981) -
VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
по: Parhi, Keshab K., 1957-
Опубликовано: (1999) -
Hardware and software concepts in VLSI
по: Rabbat, Guy
Опубликовано: (1983) -
VLSI technology
по: Sze
Опубликовано: (1983)


