Electromigration in ULSI Interconnections /

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Electromigration in ULSI Interconnections /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Tan, Cher Ming, 1959-
Natura:	Sách giấy
Pubblicazione:	Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
Serie:	International series on advances in solid state electronics and technology.
Soggetti:	Electrodiffusion. Integrated circuits > Ultra large scale integration.
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Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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