VLSI test principles and architectures : Design for testability
This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...
محفوظ في:
| التنسيق: | كتاب |
|---|---|
| اللغة: | Undetermined |
| منشور في: |
Amsterdam
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers
2006
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
كن أول من يترك تعليقا!