VLSI test principles and architectures : Design for testability

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...

תיאור מלא

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
פורמט:	ספר
שפה:	Undetermined
יצא לאור:	Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Publishers 2006
נושאים:	Integrated circuits,Integrated circuits,Mạch tích hợp,Mạch tích hợp Very large scale integration,Testing,Very large scale integration,Design,Mạch tích hợp quy mô lớn,Kiểm tra,Mạch tích hợp quy mô lớn,Thiết kế
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!

VLSI test principles and architectures : Design for testability

פריטים דומים