VLSI test principles and architectures : Design for testability

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
פורמט: ספר
שפה:Undetermined
יצא לאור: Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Publishers 2006
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ