VLSI test principles and architectures : Design for testability

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...

وصف كامل

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
التنسيق:	كتاب
اللغة:	Undetermined
منشور في:	Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Publishers 2006
الموضوعات:	Integrated circuits,Integrated circuits,Mạch tích hợp,Mạch tích hợp Very large scale integration,Testing,Very large scale integration,Design,Mạch tích hợp quy mô lớn,Kiểm tra,Mạch tích hợp quy mô lớn,Thiết kế
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

Thư viện lưu trữ:	Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

كن أول من يترك تعليقا!

VLSI test principles and architectures : Design for testability

مواد مشابهة