VLSI test principles and architectures : Design for testability
This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...
שמור ב:
| פורמט: | ספר |
|---|---|
| שפה: | Undetermined |
| יצא לאור: |
Amsterdam
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers
2006
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
פריטים דומים
-
Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /
מאת: Jakubowski, Andrzej.
יצא לאור: (1991) -
VLSI technology
מאת: Sze
יצא לאור: (1983) -
VLSI system design :
מאת: Muroga, Saburo
יצא לאור: (1982) -
Hardware and software concepts in VLSI
מאת: Rabbat, Guy
יצא לאור: (1983) -
VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
מאת: Parhi, Keshab K., 1957-
יצא לאור: (1999)