VLSI test principles and architectures : Design for testability
This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...
Đã lưu trong:
Định dạng: | Sách |
---|---|
Ngôn ngữ: | Undetermined |
Được phát hành: |
Amsterdam
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers
2006
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /
Bỡi: Jakubowski, Andrzej.
Được phát hành: (1991) -
CMOS VLSI design
Bỡi: Weste, Neil H. E
Được phát hành: (2011) -
VLSI technology
Bỡi: Sze
Được phát hành: (1983) -
VLSI system design :
Bỡi: Muroga, Saburo
Được phát hành: (1982) -
Hardware and software concepts in VLSI
Bỡi: Rabbat, Guy
Được phát hành: (1983)