VLSI test principles and architectures : Design for testability

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Format: Książka
Język:Undetermined
Wydane: Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Publishers 2006
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

Podobne zapisy