Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS
This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | Briggs, D |
|---|---|
| বিন্যাস: | গ্রন্থ |
| ভাষা: | Undetermined |
| প্রকাশিত: |
Cambridge
Cambridge University Press
1998
|
| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
- A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /
-
O-phenylenediamine electropolymerization by cyclic voltammetry combined with electrospray ionization-ion trap mass spectrometry /
অনুযায়ী: Losito, Ilario. -
Introduction to X-ray spectrometric analysis
অনুযায়ী: Bertin, Eugene P
প্রকাশিত: (2013) -
Handbook of X-ray spectrometry
অনুযায়ী: VanGriekan, ReneE, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013) -
Quantitative x-ray spectrometry
অনুযায়ী: Jenkins, Ron, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2014)