Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS

Mã QR

Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS

This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính:	Briggs, D
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	Undetermined
Được phát hành:	Cambridge Cambridge University Press 1998
Những chủ đề:	Polymers,X-ray spectroscopy,Secondary ion mass Spectrometry,Polyme,Tia X,Khối lượng ion Surfaces,Analysis,Bề mặt,Phân tích
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

Những quyển sách tương tự

A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

O-phenylenediamine electropolymerization by cyclic voltammetry combined with electrospray ionization-ion trap mass spectrometry /
Bỡi: Losito, Ilario.

Introduction to X-ray spectrometric analysis
Bỡi: Bertin, Eugene P
Được phát hành: (2013)

Handbook of X-ray spectrometry
Bỡi: VanGriekan, ReneE, et al.
Được phát hành: (2013)

Quantitative x-ray spectrometry
Bỡi: Jenkins, Ron, et al.
Được phát hành: (2014)

Simultaneous time-of-flight secondary ion MS quantitative analysis of drug surface concentration and polymer degradation kinetics in biodegradable poly(l-lactic acid) blends /
Bỡi: Lee, Joo-Woon.

The fundamentals of X-rays and radium physics
Bỡi: Selman, Joseph
Được phát hành: (1972)

Methods of X - Ray and neutron scattering in polymer science
Bỡi: Roe, Ryong-Joon
Được phát hành: (2000)

Methods of X-ray and neutron scattering in polymer science /
Bỡi: Roe, R. J.
Được phát hành: (2000)

Khảo sát phân bố suất liều trong phòng X quang chẩn đoán thông thường bằng chương trình MCNP :
Bỡi: Văn, Thành Trọng
Được phát hành: (2014)

Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
Bỡi: Trần, Thị Kiều Linh
Được phát hành: (2014)

Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
Bỡi: Nguyễn, Xuân Chánh
Được phát hành: (2008)

29Si and 27Al NMR study of the thermal transformation of barium exchanged zeolite-A to celsian /

Differential charging in X-ray photoelectron spectroscopy : A nuisance or a useful tool ? /
Bỡi: Suzer, Sefik.

Handbook of X-ray data
Bỡi: Zschornack, Günter
Được phát hành: (2013)

X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Bỡi: Schnohr, Claudia S, et al.
Được phát hành: (2016)

Capture Gamma-ray spectroscopy and related topics
Được phát hành: (2002)

Spectroscopic and diffraction study of uranium speciation in contaminated vadose zone sediments from the Hanford site, Washington State /

Methods and materials in microelectronic technology
Bỡi: Bargon, Joachim
Được phát hành: (1984)

Environmental, mineralogical, genetic characterization of ochreous and white precipitates from acid mine drainages in Taebaeg, Korea /
Bỡi: Kim, Jeong Jin.

Capillary electrophoresis micro X-ray fluorescence : A tool for benchtop elemental analysis /

Principles and practice of X-ray spectrometric analysis
Bỡi: Bertin, Eugene P
Được phát hành: (2014)

Analysis of a retan agent used in the tanning process and its determination in tannery wastewater /

Electron interaction with gel dosimeters : Effective atomic numbers for collisional, radiative and total interaction processes /

Symposium on X-Ray lithography in Japan
Bỡi: Davis, Keneth
Được phát hành: (1991)

An introduction to X-ray crystallography
Bỡi: Woolfson, M M
Được phát hành: (2013)

Tài liệu hội nghị điện quang can thiệp toàn quốc lần thứ 4 28-29/04/2016 =
Được phát hành: (2016)

Kỷ yếu hội nghị điện quang can thiệp toàn quốc lần thứ 5 21-22/04/2017 =
Được phát hành: (2017)

Hình ảnh học sọ não :
Bỡi: Clrisse, Jacques
Được phát hành: (2003)

Impact energy dependence of SF5+-induced damage in poly(methyl methacrylate) studied using time-of-flight secondary ion mass spectrometry /
Bỡi: Wagner, M. S.

Quantitative elemental analysis for rhodium and palladium in minerals by time-of-flight resonance ionization mass spectrometry /
Bỡi: Dimov, S. S.

Applications of electron-ion dissociation reactions for analysis of polycationic chitooligosaccharides in fourier transform mass spectrometry /

Xác định thực nghiệm một số đặc trưng của máy phát tia-X "RF-200EGM" nhằm bảo đảm và kiểm soát chất lượng : Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Bỡi: Nguyễn Thị Hằng.
Được phát hành: (2018)

Xác định thực nghiệm một số đặc trưng của máy phát tia-X "RF-200EGM" nhằm bảo đảm và kiểm soát chất lượng : Tóm tắt Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Bỡi: Nguyễn Thị Hằng.
Được phát hành: (2018)

Kĩ thuật X quang
Bỡi: Nguyễn Văn Hanh
Được phát hành: (1977)

Manuel de radioprotection dans les hôpitaux et en pratique générale; V5
Bỡi: W Minder
Được phát hành: (1981)

Elements of modern X-ray physics /
Bỡi: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Được phát hành: (2001)

Microstructure and microbiology of polymer surfaces
Được phát hành: (1999)

Lowering the detection limit of ion-selective plastic membrane electrodes with conducting polymer solid contact and conducting polymer potentiometric sensors /
Bỡi: Michalska, Agata.

Applicability of imaging time-of flight secondary ion MS to the characterization of solid-phase synthesized combinatorial libraries /
Bỡi: Xu Jiyun Y.