Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS

This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Briggs, D
Формат:
Язык:Undetermined
Опубликовано: Cambridge Cambridge University Press 1998
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

Схожие документы