Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS
This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Briggs, D |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | Undetermined |
Được phát hành: |
Cambridge
Cambridge University Press
1998
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
- A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /
-
O-phenylenediamine electropolymerization by cyclic voltammetry combined with electrospray ionization-ion trap mass spectrometry /
Bỡi: Losito, Ilario. -
Simultaneous time-of-flight secondary ion MS quantitative analysis of drug surface concentration and polymer degradation kinetics in biodegradable poly(l-lactic acid) blends /
Bỡi: Lee, Joo-Woon. -
The fundamentals of X-rays and radium physics
Bỡi: Selman, Joseph
Được phát hành: (1972) -
Methods of X - Ray and neutron scattering in polymer science
Bỡi: Roe, Ryong-Joon
Được phát hành: (2000)