Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS
This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...
Gardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Undetermined |
| Publicado: |
Cambridge
Cambridge University Press
1998
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Sexa o primeiro en deixar un comentario!