Surface analysis of polymers by XPS and static SIMS
This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful tec...
Đã lưu trong:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Sprog: | Undetermined |
| Udgivet: |
Cambridge
Cambridge University Press
1998
|
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Vær først til at give en kommentarø!