Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijä: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Muut tekijät: Prelec, Krsto.
Aineistotyyppi: Sách giấy
Julkaistu: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Sarja:AIP conference proceedings ; no. 572.
Aiheet:
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt