Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Korporacja: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Kolejni autorzy: Prelec, Krsto.
Format: Sách giấy
Wydane: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Seria:AIP conference proceedings ; no. 572.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt