Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Guardat en:
| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Altres autors: | |
| Format: | Sách giấy |
| Publicat: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| Col·lecció: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|