Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Sách giấy |
| Vydáno: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| Edice: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| Fyzický popis: | xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm. |
|---|---|
| Bibliografie: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0735400113 |