Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
מחברים אחרים: Prelec, Krsto.
פורמט: Sách giấy
יצא לאור: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
סדרה:AIP conference proceedings ; no. 572.
נושאים:
Electron beams > Congresses.
Ion sources > Congresses.
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
תיאור
תיאור פיזי:xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0735400113

פריטים דומים