Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

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Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Outros Autores: Prelec, Krsto.
Formato: Sách giấy
Publicado em: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Colecção:AIP conference proceedings ; no. 572.
Assuntos:
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Descrição
Descrição Física:xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0735400113