Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Sách giấy |
| Έκδοση: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| Σειρά: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
| Φυσική περιγραφή: | xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm. |
|---|---|
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0735400113 |