Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
অন্যান্য লেখক: Prelec, Krsto.
বিন্যাস: Sách giấy
প্রকাশিত: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
মালা:AIP conference proceedings ; no. 572.
বিষয়গুলি:
Electron beams > Congresses.
Ion sources > Congresses.
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
বিবরন
দৈহিক বর্ননা:xiv, 304 p. : ill. ; 25 cm.
গ্রন্থ-পঞ্জী:Includes bibliographical references and index.
আইসবিএন:0735400113

অনুরূপ উপাদানগুলি