Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Tác giả khác: Prelec, Krsto.
Định dạng: Sách giấy
Được phát hành: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Loạt:AIP conference proceedings ; no. 572.
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 01200nam a2200349 4500
001 DLU030023232
005 ##20011026092406.0
008 ##010515s2001 nyua b 101 0 eng
010 # # |a  2001091142 
020 # # |a 0735400113 
040 # # |a DLC  |c DLC  |d DLC 
042 # # |a pcc 
050 # # |a QC702.3  |b .I6 2000 
082 # # |a 539.73  |b EBI 
111 # # |a International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications  |n (8th :  |d 2000 :  |c Upton, N.Y.) 
245 # # |a Electron beam ion sources and traps and their applications :  |b 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /  |c editor, Krsto Prelec. 
260 # # |a Melville, N.Y. :  |b American Institute of Physics,  |c 2001. 
300 # # |a xiv, 304 p. :  |b ill. ;  |c 25 cm. 
504 # # |a Includes bibliographical references and index. 
650 # # |a Electron beams  |v Congresses. 
650 # # |a Ion sources  |v Congresses. 
700 # # |a Prelec, Krsto. 
830 # # |a AIP conference proceedings ;  |v no. 572. 
992 # # |a 179.40 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Phan Ngọc Đông 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a SH 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt