Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Beste egile batzuk: Prelec, Krsto.
Formatua: Sách giấy
Argitaratua: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Saila:AIP conference proceedings ; no. 572.
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt