Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Outros autores: Prelec, Krsto.
Formato: Sách giấy
Publicado: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Series:AIP conference proceedings ; no. 572.
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Títulos similares