Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Đã lưu trong:
Tác giả của công ty: | International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.) |
---|---|
Tác giả khác: | Prelec, Krsto. |
Định dạng: | Sách giấy |
Được phát hành: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
Loạt: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
The physics and applications of high brightness electron beams : proceedings of the 46th Workshop of the INFN ELOISATRON Project : Erice, Italy, 9-14 October 2005 /
Được phát hành: (2007) -
Methods and materials in microelectronic technology
Bỡi: Bargon, Joachim
Được phát hành: (1984) -
Ion exchange at the millennium : proceedings of IEX 2000 : Churchill College, Cambridge, 16-21 July 2000 /
Được phát hành: (2000) -
Quantum aspects of beam physics
Bỡi: Joint ICFA Advanced Beam Dynamics and Advanced & Novel Accelerators Workshop
Được phát hành: (2004) -
SPIN 2004 : 16th international spin physics symposium : workshop on polarized electron sources and polarimeters /
Được phát hành: (2005)