Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.) |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Prelec, Krsto. |
| פורמט: | Sách giấy |
| יצא לאור: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| סדרה: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
פריטים דומים
-
The physics and applications of high brightness electron beams : proceedings of the 46th Workshop of the INFN ELOISATRON Project : Erice, Italy, 9-14 October 2005 /
יצא לאור: (2007) -
Methods and materials in microelectronic technology
מאת: Bargon, Joachim
יצא לאור: (1984) -
SPIN 2004 : 16th international spin physics symposium : workshop on polarized electron sources and polarimeters /
יצא לאור: (2005) -
Spin 2000 : 14th International Spin Physics Symposium, Osaka, Japan, 16-21 October 2000 /
יצא לאור: (2001) -
Quantum aspects of beam physics
מאת: Joint ICFA Advanced Beam Dynamics and Advanced & Novel Accelerators Workshop
יצא לאור: (2004)


