Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلف مشترك: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
مؤلفون آخرون: Prelec, Krsto.
التنسيق: Sách giấy
منشور في: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
سلاسل:AIP conference proceedings ; no. 572.
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

مواد مشابهة