Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Tác giả khác: Prelec, Krsto.
Định dạng: Sách giấy
Được phát hành: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Loạt:AIP conference proceedings ; no. 572.
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự