Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Shranjeno v:
| Korporativna značnica: | |
|---|---|
| Drugi avtorji: | |
| Format: | Sách giấy |
| Izdano: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| Serija: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| Teme: | |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|