Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Autor kompanije: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps and their Applications Upton, N.Y.)
Daljnji autori: Prelec, Krsto.
Format: Sách giấy
Izdano: Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2001.
Serija:AIP conference proceedings ; no. 572.
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt