Electron beam ion sources and traps and their applications : 8th international symposium, EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000 /
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Sách giấy |
| Publicado: |
Melville, N.Y. :
American Institute of Physics,
2001.
|
| Colección: | AIP conference proceedings ;
no. 572. |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|