Characteristics of Ni/SiC schottky diodes grown by ICP-CVD /
Zapisane w:
| 1. autor: | Gil, Tae-Hyun. |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | Kim, Han-Soo., Kim, Yong-Sang. |
| Format: | Artykuł |
| Język: | English |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Podobne zapisy
-
Schottky barrier silicon nanowire SONOS memory with ultralow programming and erasing voltages
od: Chun-Hsing Shih, i wsp.
Wydane: (2024) -
Effects of High Temperatures on Cell Reading, Programming, and Erasing of Schottky Barrier Charge-Trapping Memories
od: Jr-Jie Tsai, i wsp.
Wydane: (2023) -
A source-side injection lucky electron model for Schottky barrier metal-oxide-semiconductor devices
od: Chun-Hsing Shih, i wsp.
Wydane: (2024) -
Modified trench MOS barrier schottky (TMBS) rectifier /
od: Moon, Jin-Woo. -
Jorgensen's inequality for classical Schottky groups of real type II /
od: Sato, Hiroki.