Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Kim, Young-Min.
Outros Autores: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Formato: Atigo
Idioma:English
Assuntos:
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt