Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Đã lưu trong:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Kim, Young-Min.
Andre forfattere: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Format: Bài viết
Sprog:English
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt