Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Kim, Young-Min.
Другие авторы: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt