Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

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Autore principale: Kim, Young-Min.
Altri autori: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Natura: Articolo
Lingua:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt