Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Prif Awdur: Kim, Young-Min.
Awduron Eraill: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Fformat: Erthygl
Iaith:English
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Eitemau Tebyg