Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Kim, Young-Min.
Diğer Yazarlar: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Materyal Türü: Makale
Dil:English
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Benzer Materyaller