Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Kim, Young-Min.
Tác giả khác: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt