Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Kim, Young-Min.
Drugi avtorji: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Format: Bài viết
Jezik:English
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt