Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk:	Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Formatua:	Artikulua
Hizkuntza:	English
Gaiak:	Dispersive spectrometry Electron microprobe analysis Inclusion Particle Stainless steel Thin film X ray spectrometry
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Antzeko izenburuak