Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Fformat: Erthygl
Iaith:English
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt