Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt